折射率降低芯片測定儀，ATAGO折射率片測定儀, 折射率片測定儀*

Name: 折射率降低芯片測定儀，ATAGO折射率片測定儀, 折射率片測定儀*
Availability: InStock

型號：

更新時間：2025-09-28

簡要描述：

產品咨詢服務電話：020-38106065

詳細介紹

DR-M2多波長阿貝折射儀

折射指數或阿貝數( vd 或 ve ) 可依據 450 至 1,100nm 范圍內的不同波長來衡量。
DR-M2能在液晶屏幕上數字顯示折射指數與阿貝數。
藉由邊界線與相交線交叉點的比對進行測量。本折射儀能與數字打印機 DP-22(B)做連結(選購)。

型號	DR-M2	貨號	1410
測量范圍	折射指數 1.3278 至 1.7379 ( 波長450nm ) 折射指數 1.3000 至 1.7100 ( 波長589nm ) 折射指數 1.2912 至 1.7011 ( 波長680nm ) 折射指數 1.2743 至 1.6840 ( 波長1,100nm )
zui小顯示單位	折射指數 : 0.0001 阿貝數 : 0.1	測量準確度	折射指數 : ±0.0002 ( 附589nm 測試片 )
波長范圍	從 450 至 1100nm ( 對于681 至 1100nm的波長，則需要近紅外線觀察器 (可選購))
溫度測量范圍	5 至 50°C	輸出終端機	數字打印機 DP-22(B) (選件)
電源	AC100 至 240V 50/60Hz	電力損耗	160VA
尺寸重量	13×29×31公分, 6.0千克 (折射儀) 15×33×11公分, 3.0千克 (光源組件)
選件	• 膠卷測量用采光玻璃片 (DR-M2用) : RE-6191 • 數字打印機 DP-22(B) : 型號 3125 • 干涉濾光 589(D)nm : RE-3520 486(F)nm : RE-3521 656(C)nm : RE-3522 546(e)nm : RE-3523 480(F')nm : RE-3524 644(C')nm : RE-3525 (選擇波長) : RE-3526 450 至 539nm 540 至 680nm 681 至 799nm 800 至 1110nm • 近紅外線透鏡 : RE-9119 • 帶偏光板接眼鏡 : RE-1146
消耗品/零件	• 刻度校正用 A : RE-1195 • DR-M2用主副菱鏡 : RE-1600 • 光源燈泡 DR-M2, M4 : RE-4170 • 干燥劑 : RE-1592